产品概述
3215贴片无源晶振测试而设计在当今的高科技产业中，贴片晶振作为关键的频率源，其性能的稳定性与可靠性对于各类电子产品来说至关重要。为了满足这一需求，我们的公司特别推出了一款专为贴片3215晶振测试而设计的CX-118A型贴片晶振测试仪
3215型晶振测试仪是由我司按照IEC-444标准自主研发设计生产的一款多功能晶振测试系统，该晶振测试仪主要测试贴片3215贴片无源晶振，负载电容在5P～20P范围内任意可调，主机内部时基标配高精度OCXO恒温晶振。
该晶振为无源晶振测试，涵盖大多数电子产品晶体测试，广泛应用于邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业对于晶振的验证或筛选。
产品功能
1) PPM测量，上下限测量；
2) 频率测量范围32.768KHz;
3) 频率测量分辨率高达12位/s;
4) 多种晶振测试工装，满足常规测试应用。
产品特点
a) 高度集成，精度高；
b) 稳定性好，性能可靠；
c) 操作简单。
典型应用
1) 通信设备、汽车电子设备、医疗电子、安防电子、工业自动化设备等生产商，对于提供基准频率的晶振进行验证或筛选。
技术指标
二、主要技术指标：
频率测量范围：32.768KHz
频率测量灵敏度：25mv
PPm测量：10 Hz — 100 MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定： ± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
时基频率：10MC
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
